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Norm [AKTUELL]

BS ISO 23830
Chemische Analytik an Oberflächen. Sekundärionenmassenspektrometrie. Wiederholpräzision und Konstanz der relativen Intensitätsskala bei der statischen Sekundärionenmassenspektrometrie

Titel (englisch)

Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry

Ausgabe 2008-12-31
Originalsprache Englisch
Preis ab 267,20 €
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