Norm
[AKTUELL]
BS EN 60749-38
BS EN 60749-38
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Soft error test method for semiconductor devices with memory