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Norm [AKTUELL]

BS EN 60749-38
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Soft error test method for semiconductor devices with memory

Ausgabe 2008-06-30

Originalsprache Englisch

Preis ab 192,70 €

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