Norm [AKTUELL]

NF C96-022-38 ; NF EN 60749-38:2008-06-01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: soft error test method for semiconductor devices with memory

Ausgabe 2008-06-01
Originalsprache Französisch
Preis ab 90,10 €
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