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Norm [AKTUELL]

OEVE/OENORM EN 62374
Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten (IEC 62374:2007)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films (IEC 62374:2007)

Ausgabe 2008-03-01

Originalsprache Deutsch

Preis ab 143,60 €

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