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Norm [AKTUELL]

NF C96-017 ; NF EN 62374:2008-01-01
Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films

Ausgabe 2008-01-01

Originalsprache Französisch

Preis ab 105,40 €

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