2. Mitwirken
3. Normenausschüsse
4. NWT

DIN-Normenausschuss Werkstofftechnologie (NWT)

Einführungsbeitrag

Dieser Teil der ISO 25178 legt die messtechnischen Eigenschaften von Messgeräten der phasenschiebenden interferometrischen (PSI-) Mikroskopie zur Messung von Oberflächenprofilen und zur flächenhaften Messung der Oberflächenbeschaffenheit fest. Dieser Teil von ISO 25178 ist eine Norm der geometrischen Produktspezifikation und als allgemeine GPS-Norm anzusehen (siehe ISO/TR 14638). Sie beeinflusst das Kettenglied 5 der Normenketten über flächenhafte Oberflächenbeschaffenheit. Der in ISO 14638 gegebene ISO/GPS-Masterplan gibt einen Überblick über das ISO/GPS-System, von dem dieses Dokument ein Bestandteil ist. Die in ISO 8015 gegebenen grundlegenden Regeln von ISO/GPS gelten für dieses Dokument. Falls nichts anderes angegeben, gelten die Default-Entscheidungsregeln nach ISO 14253-1 für Spezifikationen, die in Übereinstimmung mit diesem Dokument festgelegt wurden. Dieses Dokument (EN ISO 25178-603:2013) wurde vom Technischen Komitee ISO/TC 213 "Dimensional and geometrical product specifications and verification" (Sekretariat: DS, Dänemark) in Zusammenarbeit mit dem Technischen Komitee CEN/TC 290 "Geometrische Produktspezifikationen und -prüfung" erarbeitet, dessen Sekretariat vom AFNOR (Frankreich) gehalten wird. Das zuständige nationale Gremium ist der Arbeitsausschuss NA 152-03-03 AA "Oberflächen" im Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG) im DIN.

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Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 152-03-03 AA - Oberflächen  

Zuständiges europäisches Arbeitsgremium

CEN/TC 290 - Geometrische Produktspezifikationen und -prüfung  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 213/WG 16 - Flächen- und profilhafte Oberflächenbeschreibung