DIN-Normenausschuss Veranstaltungstechnik, Bild und Film (NVBF)
DIN ISO 9039
Optik und Photonik - Qualitätsbewertung optischer Systeme - Bestimmung der Verzeichnung (ISO 9039:2008)
Optics and photonics - Quality evaluation of optical systems - Determination of distortion (ISO 9039:2008)
Einführungsbeitrag
DIN ISO 9039:
Diese Norm legt Methoden zur Bestimmung der Verzeichnung von optischen Systemen für die Qualitätsbewertung fest. Sie gilt für optische Abbildungssysteme im optischen Spektralbereich von 100 nm bis 15 000 nm, bei denen durch ihre Konstruktion eine rotationssymmetrische Abbildungsgeometrie angestrebt ist. Sie gilt für optronische Abbildungssysteme, sofern eine hinreichende Rotationssymmetrie der Abbildung gewährleistet ist. Sie gilt also nicht für anamorphotische und faseroptische Systeme.
DIN ISO 9334:
Die Norm legt Begriffe der optischen Übertragungsfunktion fest und benennt, in den Fällen, in denen es angebracht ist, die mathematischen Beziehungen zwischen diesen Begriffen. Sie definiert auch wichtige Parameter, die im Zusammenhang mit der Messung optischer Übertragungsfunktionen spezifiziert sein sollten. Die in dieser Norm definierten Begriffe und Parameter gelten für alle Messungen optischer Übertragungsfunktionen optischer, elektro-optischer und anderer abbildender Systeme.
Die Normen wurden vom ISO/TC 172/SC 1 "Optik und Photonik - Grundnormen" unter Beteiligung deutscher Experten ausgearbeitet. Zuständig im DIN ist der NA 027-01-02 AA "Grundnormen der Optik" im NAFuO.
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN 58187:1986-06 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) folgende Inhalte sind zusätzlich hinzugekommen: Informativer Anhang A "Beispiel für eine Methode der Nullpunkts-Verschiebung" Informativer Anhang B "Bildhöhen-Verzeichnungswert"; Abschnitt 4.2.2.3 "Knotenpunkts-Methode" und Literaturhinweise; b) einige der Symbole wurden geändert, z. B. diejenigen für Objekt- und Bildhöhen, Feldwinkel und Abbildungsmaßstab; c) Übernahme der Internationalen Norm ISO 9039:2008.
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Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 027-01-02-01 AK - Messverfahren für die Optik
