DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)
DIN CEN/TS 1071-10
Hochleistungskeramik - Verfahren zur Prüfung keramischer Schichten - Teil 10: Bestimmung der Schichtdicke mittels Querschliff; Deutsche Fassung CEN/TS 1071-10:2004
Advanced technical ceramics - Methods of test for ceramic coatings - Part 10: Determination of coating thickness by cross sectioning; German version CEN/TS 1071-10:2004
Verfahren
Vornorm
Einführungsbeitrag
Die Europäische Technische Spezifikation (TS) wurde von der Arbeitsgruppe 5 "Prüfung von keramischen Beschichtungen" des CEN/TC 184 "Hochleistungskeramik" (Sekretariat: BSI, Großbritannien) erstellt.
In der Technischen Spezifikation ist ein Messverfahren für die Schichtdicke keramischer Beschichtungen festgelegt, bei dem ein metallographisch angefertigter Querschliff der Beschichtung mit einem kalibrierten Licht- oder Rasterelektronenmikroskop untersucht wird. Es ist EN ISO 9220 angelehnt, jedoch wurden alle erforderlichen Anpassungen und Aktualisierungen vorgenommen, um keramischen Beschichtungen und der derzeitig besten Praxis zu entsprechen.
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Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062-01-64 AA - Kohlenstoffschichten und keramische Hartstoffschichten
