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  3. Normenausschüsse
  4. NMP
NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

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Norm [AKTUELL]

ISO 20341
Chemische Analytik an Oberflächen - Sekundärionenmassenspektrometrie - Methode für die Bestimmung von Parametern der Tiefenauflösung mit Hilfe von Referenzmaterialien mit mehreren Deltaschichten

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 6 - Sekundärionenmassenspektroskopie  

Ausgabe 2003-07
Originalsprache Englisch
Preis ab 46,00 €
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