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NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Über NMP Aktuelles Projekte Entwürfe Veröffentlichungen Ersatzlose Zurückziehungen Nationale Gremien Europäische Gremien Internationale Gremien

Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

ISO 18114
Chemische Analytik an Oberflächen - Sekundärionenmassenspektrometrie - Bestimmung von relativen Empfindlichkeitsfaktoren mit Hilfe von ionenimplantierten Referenzmaterialien

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 6 - Massenspektroskopien

Ausgabe 2003-04

Originalsprache Englisch

Preis ab 46,00 €

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Inhaltsverzeichnis

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