2. Mitwirken
  3. Normenausschüsse
  4. NMP
NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

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Technische Regel [ZURÜCKGEZOGEN]

ISO/TR 15969
Chemische Oberflächenanalyse - Tiefenprofilanalyse - Messung der mittels Ionenstrahlzerstäubung erzielten Tiefe

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Depth profiling - Measurement of sputtered depth

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 4 - Untersuchungen an Tiefenprofilen  

Ausgabe 2001-06
Originalsprache Englisch
Preis ab 70,10 €
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Inhaltsverzeichnis

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