NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Norm [AKTUELL]

ISO 5861
Chemische Oberflächenanalyse - Röntgenphotoelektronenspektrometrie - Methode der Intensitätskalibrierung für mit Quarzkristallen monochromatisierte Al Kα XPS-Geräte

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Method of intensity calibration for quartz-crystal monochromated Al Kα XPS instruments

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 7/WG 2 - Quantifizierung und Interpretation der Daten bei der Elektronenspektroskopie  

Ausgabe 2024-06
Originalsprache Englisch
Preis ab 166,60 €
Inhaltsverzeichnis

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