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DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Einführungsbeitrag

Dieses Dokument definiert Begriffe für Analyseverfahren, bei denen der Nachweis von Elementen und deren Gehaltsbestimmung durch Messen der Röntgenfluoreszenzstrahlung erfolgt. Ziel dieses Dokuments ist es, Begriffe für das Gebiet der TXRF aufzustellen und mit Begriffen für die Röntgenfluoreszenz-Analyse abzugleichen. Dieses Dokument wurde vom Arbeitsausschuss NA 062-08-16 AA "Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie" im DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP) erarbeitet.

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN 51003:2004-05 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Einleitung mit Begründung zur Überarbeitung der Norm wurde ergänzt; b) normative Verweisungen wurden durch neue Normen zur Nomenklatur und Anwendung der TXRF ergänzt; c) Im Abschnitt 3 "Allgemeine Begriffe" wurden grundlegende Begriffe der Röntgenfluoreszenz aufgrund der Verweisungen auf existierende Normen entfernt. Dafür wurden zahlreiche fehlende Begriffe, die für die TXRF relevant sind, ergänzt; d) ehemalige Abschnitte 4 (Physikalische Grundlagen), 6 (Modulation der Primärstrahlung) und 7 (Strahlführung) wurden zusammengefasst und mit Erläuterungen zum "stehenden Wellenfeld" (XSW), Messwinkel und Fluoreszenzintensität ergänzt. Der Abschnitt 4 behandelt erstmals vollständig die Grundlagen der TXRF in textlicher Form. Alle Abbildungen wurden korrigiert bzw. aktualisiert; e) Inhalte der ehemaligen Abschnitte 5 (Strahlungsquellen) und 8 (Messung der Röntgenfluoreszenzstrahlung …) wurden weitgehend gestrichen, da diese Grundlagen der Röntgenfluoreszenzanalytik enthielten, die in anderen Normen (z. B. DIN 51418) erläutert werden; f) Abschnitt 5 zur Kalibrierung und Qualitätskontrolle wurde komplett neu erstellt; g) Abschnitt 6 (Proben und Probenvorbereitung, zuvor Abschnitt 9) wurde aktualisiert bzw. im Bereich der Probenvorbereitung erweitert. Begriffe zu den Proben wurden in Abschnitt 3 (Begriffe) verschoben; h) im Abschnitt 7 (vorher Abschnitt 10) wurden Begriffe zur qualitativen Analyse weitgehend gestrichen, da diese in anderen Normen (DIN 51418, DIN 32633) erläutert werden. Dafür wurde der Abschnitt zur quantitativen Analytik deutlich erweitert durch eine Beschreibung der Vorbereitung und konkreten Durchführung der quantitativen Analytik; i) im Abschnitt 7 wurde die Beschreibung eines erfolgreichen Ringversuches aufgenommen; j) ehemaliger frühere Abschnitt 12 (Einsatzgebiete der TXRF) wurde gestrichen, da diese in anderen Normen (ISO/TS 18507) ausführlich beschrieben sind; k) Anhänge wurden überarbeitet und aktualisiert; l) Literaturverzeichnis wurde aktualisiert.

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie