2. Mitwirken
  3. Normenausschüsse
  4. NMP
NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

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Norm [AKTUELL]

ISO 18114
Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionenmassenspektrometrie - Bestimmung relativer Sensitivitätsfaktoren ionenimplantierter Referenzmaterialien

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 6 - Massenspektroskopien  

Ausgabe 2021-05
Originalsprache Englisch
Preis ab 46,00 €
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Inhaltsverzeichnis

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