DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)
DIN ISO 13067
Mikrobereichsanalyse - Elektronenrückstreubeugung - Messung der mittleren Korngröße (ISO 13067:2020)
Microbeam analysis - Electron backscatter diffraction - Measurement of average grain size (ISO 13067:2020)
Einführungsbeitrag
Dieses Dokument beschreibt Verfahren zur Messung der mittleren Korngröße anhand eines zweidimensionalen polierten Querschliffs mittels Elektronenrückstreubeugung (EBSD, en: Electron backscatter diffraction). Dazu ist die Messung der Orientierung, der Fehlorientierung und eines Faktors für die Qualität der Beugungsmuster als eine Funktion der Position in der kristallinen Probe erforderlich. Das zuständige deutsche Normungsgremium ist der Arbeitsausschuss NA 062-08-18 AA "Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse" im DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP).
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN ISO 13067:2015-12 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Begriffe "3D-Korngröße", "mittlere Korngröße" und "sektionale Korngröße" eingeführt; b) Verfahren der Auswahl der abzubildenden Flächen und Kartengrößen abgeändert; c) Datenbereinigung abgeändert; d) Verfahren zur Berechnung der mittleren Korngröße hinzugefügt; e) Darstellung der Daten abgeändert; f) Verfahren zur Bestimmung der Messunsicherheit abgeändert; g) Anhang A zur Korngrößenmessung abgeändert; h) Anhang B zur Vergleichpräzision hinzugefügt.
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Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse
