2. Mitwirken
  3. Normenausschüsse
  4. NMP
NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Über NMP Aktuelles Projekte Entwürfe Veröffentlichungen Ersatzlose Zurückziehungen Nationale Gremien Europäische Gremien Internationale Gremien
Technische Regel [AKTUELL]

ISO/TR 15969
Chemische Oberflächenanalyse - Tiefenprofilanalyse - Messung der gesputterten Tiefe

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Depth profiling - Measurement of sputtered depth

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 4 - Untersuchungen an Tiefenprofilen  

Ausgabe 2021-03
Originalsprache Englisch
Preis ab 106,30 €
Kaufen bei DIN Media
Inhaltsverzeichnis

Ihr Kontakt

Steffen Jenkel

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Zum Kontaktformular