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  3. Normenausschüsse
  4. NMP
NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

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Norm [AKTUELL]

ISO 16413
Bestimmung der Dicke, Dichte und Grenzflächenbreite von Dünnschichten durch Röntgenreflektometrie - Geräteanforderungen, Einstellung und Positionierung, Datensammlung, Datenanalyse und Berichterstattung

Titel (englisch)

Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry - Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201 - Chemische Oberflächenanalyse  

Ausgabe 2020-08
Originalsprache Englisch
Preis ab 166,60 €
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