NA 062
DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)
Norm
[AKTUELL]
ISO 20411
ISO 20411
Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionenmassenspektroskopie - Korrekturverfahren für gesättigte Intensität bei Einzelionen zählender dynamischer Sekundärionenmassenspektroskopie
Titel (englisch)
Surface chemical analysis - Secondary ion mass spectrometry - Correction method for saturated intensity in single ion counting dynamic secondary ion mass spectrometry
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie