NA 062
DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)
DIN EN 16866 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| EN ISO 2177 | 2004-05 | Metallische Überzüge - Schichtdickenmessung - Coulometrisches Verfahren durch anodisches Ablösen (ISO 2177:2003) Mehr |
| ASTM B 764 | 2004 | Mehrfachnickelsysteme; gleichzeitige Bestimmung der Dicke und des elektrochemischen Potentials (Stufenprüfung) Mehr |
| DIN ISO 2859-1 | 2014-08 | Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 1: Nach der annehmbaren Qualitätsgrenzlage (AQL) geordnete Stichprobenpläne für die Prüfung einer Serie von Losen - (ISO 2859-1:1999 + Cor. 1:2001 + Amd.1:2011); Text in Deutsch und Englisch Mehr |
| DIN 50960-2 | 2006-01 | Galvanische Überzüge - Teil 2: Zeichnungsangaben Mehr |
| EN ISO 1456 | 2009-08 | Metallische und andere anorganische Überzüge - Galvanische Überzüge aus Nickel, Nickel plus Chrom, Kupfer plus Nickel und Kupfer plus Nickel plus Chrom (ISO 1456:2009) Mehr |
| EN ISO 2064 | 2000-03 | Metallische und andere anorganische Schichten - Definitionen und Festlegungen, die die Messung der Schichtdicke betreffen (ISO 2064:1996) Mehr |
| EN ISO 3497 | 2000-12 | Metallische Schichten - Schichtdickenmessung - Röntgenfluoreszenz-Verfahren (ISO 3497:2000) Mehr |
| ISO 2859-1 | 1999-11 | Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 1: Nach der annehmbaren Qualitätsgrenzlage (AQL) geordnete Stichprobenanweisungen für die Prüfung einer Serie von Losen anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler Mehr |
| ISO/IEC Guide 98-3 | 2008-09 | Messunsicherheit - Teil 3: Leitfaden zur Angabe der Unsicherheit beim Messen Mehr |
