NA 062
DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)
Norm
[AKTUELL]
ISO 16700
ISO 16700
Mikrobereichsanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Leiffäden für die Kalibrierung der Bildvergrößerung
Titel (englisch)
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse