NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Technische Regel [AKTUELL]

DIN SPEC 52407
Nanotechnologien - Methoden zur Präparation und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rasterelektronenmikroskopie im Transmissionsmodus (TSEM)

Titel (englisch)

Nanotechnologies - Methods for preparation and assessment for particle measurements with atomic force microscopy (AFM) and transmission scanning electron microscopy (TSEM)

Verfahren

Fachbericht

Einführungsbeitrag

Diese DIN SPEC beinhaltet eine Methodensammlung zur sicheren und reproduzierbaren Präparation von eng verteilten Referenz-Nanopartikeln auf ebenen Flächen sowie deren Größenmessung und Auswertung.
Die beschriebenen Verfahren sind anwendbar auf die Präparation und Untersuchung einzelner oder an Ketten aneinander liegender Partikel sowie Monolagenschichten im Größenbereich unter 1 µm.
Für diese Norm ist das Gremium NA 062-08-17-02 UA "Prüfverfahren" im DIN zuständig.

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Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-17-02 UA - Prüfverfahren  

Ausgabe 2015-03
Originalsprache Deutsch
Preis ab 68,10 €
Inhaltsverzeichnis

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Steffen Jenkel

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