NA 062
DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)
Norm
[AKTUELL]
ISO 22493
ISO 22493
Mikrobereichsanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Fachwörterverzeichnis
Titel (englisch)
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse