NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Norm [AKTUELL]

ISO 22493
Mikrobereichsanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Fachwörterverzeichnis

Titel (englisch)

Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 202/SC 1 - Terminologie  

Ausgabe 2014-04
Originalsprache Englisch
Preis ab 142,50 €
Inhaltsverzeichnis

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