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NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Über NMP Aktuelles Projekte Entwürfe Veröffentlichungen Ersatzlose Zurückziehungen Nationale Gremien Europäische Gremien Internationale Gremien

Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

ISO 17862
Chemische Oberflächeneanalyse - Sekundärionenmassenspektrometrie - Linearität der Intensitätsskale in einzelne Ionen zählenden Flugzeit-Massenanalysegeräten

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Secondary ion mass spectrometry - Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 6/WG 4 - Statische SIMS

Ausgabe 2013-12

Originalsprache Englisch

Preis ab 142,50 €

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Inhaltsverzeichnis

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