NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

ISO 16531
Chemische Oberflächenanalyse - Tiefenprofilanalyse - Verfahren zur Ionenstrahljustierung und die damit verbundene Messung des Stroms oder der Stromdichte für Tiefenprofilanalyse mit AES und XPS

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Depth profiling - Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 4 - Untersuchungen an Tiefenprofilen  

Ausgabe 2013-06
Originalsprache Englisch
Preis ab 106,30 €
Inhaltsverzeichnis

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Steffen Jenkel

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