NA 062
DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)
Norm
[ZURÜCKGEZOGEN]
ISO 13084
ISO 13084
Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionenmassenspektrometrie - Kalibrierungd er Massenskale für ein Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometer
Titel (englisch)
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary-ion mass spectrometer
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie