NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

ISO 13084
Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionenmassenspektrometrie - Kalibrierungd er Massenskale für ein Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometer

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary-ion mass spectrometer

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 6 - Massenspektroskopien  

Ausgabe 2011-05
Originalsprache Englisch
Preis ab 70,10 €
Inhaltsverzeichnis

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Steffen Jenkel

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