NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

ISO 25498
Mikrobereichsanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Bereichsselektive Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop

Titel (englisch)

Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 202/SC 3 - Analytische Elektronenmikroskopie  

Ausgabe 2010-06
Originalsprache Englisch
Preis ab 70,10 €
Inhaltsverzeichnis

Ihr Kontakt

Steffen Jenkel

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Zum Kontaktformular