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NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

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Norm [AKTUELL]

ISO 23830
Chemische Analytik an Oberflächen - Sekundärionenmassenspektromtrie - Wiederholpräzision und Konstanz der relativen Intensitätsskala bei der statischen Sekundärionenmassenspektromtrie

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 6 - Sekundärionenmassenspektroskopie  

Ausgabe 2008-11
Originalsprache Englisch
Preis ab 70,10 €
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