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NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Über NMP Aktuelles Projekte Entwürfe Veröffentlichungen Ersatzlose Zurückziehungen Nationale Gremien Europäische Gremien Internationale Gremien

Projekt

Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionenmassenspektrometrie - Korrekturverfahren für gesättigte Intensitäten in der Einzelionenzählung der dynamischen Sekundärionenmassenspektrometrie

Beginn

2023-11-07

Geplante Dokumentnummer

ISO/AWI 20411

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 6 - Massenspektroskopien

Vorgänger-Dokument(e)

Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionenmassenspektroskopie - Korrekturverfahren für gesättigte Intensität bei Einzelionen zählender dynamischer Sekundärionenmassenspektroskopie
2018-03

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