NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Projekt

Prüfung keramischer Rohstoffe und keramischer Materialien - Direkte Bestimmung der Massenanteile an Verunreinigungen in pulver- und kornförmigem Siliciumcarbid mittels optischer Emissionsspektrometrie und Anregung im Gleichstrombogen (DCArc-OES)

Kurzreferat

Dieses Dokument legt ein Verfahren zur Bestimmung der Massenanteile der Verunreinigungen Al, B, Ca, Cr, Cu, Fe, Mg, Ni, Ti, V und Zr in pulver- und kornförmigem Siliciumcarbid von keramischen Rohwerkstoffen und keramischen Werkstoffen fest. Die Anwendung ist übertragbar auf weitere metallische Elemente und andere artverwandte nichtmetallische pulver- und kornförmige Werkstoffe, wie Carbide, Nitride, Graphite, Ruße, Kokse, Kohle, sowie eine Reihe weiterer oxidischer Roh- und Werkstoffe nach entsprechender Prüfung. ANMERKUNG Es liegen positive Erfahrungen zu Materialien wie beispielsweise Graphit, Borcarbid (B4C), Bornitrid (BN), Wolframcarbid (WC) und verschiedenen refraktären Metalloxiden vor. Das Verfahren ist für Massenanteile der o. g. Verunreinigungen von etwa 1 mg/kg bis etwa 3 000 mg/kg, nach Überprüfung, anwendbar. In manchen Fällen ist es möglich, den Bereich auf bis zu 5 000 mg/kg zu erweitern, je nach Element, Emissionslinien, DCArc-Parametern und Probenmasse.

Beginn

2023-07-11

WI

00187156

Geplante Dokumentnummer

prEN 15979

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-02-66 AA - Chemische Analyse von Keramik- und Glaswerkstoffen  

Zuständiges europäisches Arbeitsgremium

CEN/TC 187/WG 4 - Chemische Analyseverfahren  

Ersatzvermerk

Vorgesehen als Ersatz für EN 15979:2011-01

Norm-Entwurf

Prüfung keramischer Rohstoffe und keramischer Materialien - Direkte Bestimmung der Massenanteile an Verunreinigungen in pulver- und kornförmigem Siliciumcarbid mittels optischer Emissionsspektrometrie und Anregung im Gleichstrombogen (DCArc-OES)
2024-07
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Vorgänger-Dokument(e)

Prüfung keramischer Roh- und Werkstoffe - Direkte Bestimmung der Massenanteile an Verunreinigungen in pulver- und kornförmigem Siliciumcarbid mittels OES und Anregung im Gleichstrombogen
2011-01

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Dr.

Franziska Baensch

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