DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)
Mikrobereichsanalyse – TEM-Probenvorbereitung mittels fokussierter Ionenstrahlen - Fachwörterverzeichnis
Beginn
2022-07-18
Geplante Dokumentnummer
ISO/DIS 17297
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse
Zuständiges internationales Arbeitsgremium
ISO/TC 202/SC 1 - Terminologie
Norm-Entwurf
Mikrobereichsanalyse – TEM-Probenvorbereitung mittels fokussierter Ionenstrahlen - Fachwörterverzeichnis
2024-01
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