NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Projekt

Mikrobereichsanalyse – TEM-Probenvorbereitung mittels fokussierter Ionenstrahlen - Fachwörterverzeichnis

Beginn

2022-07-18

Geplante Dokumentnummer

ISO/FDIS 17297

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 202/SC 1 - Terminologie  

Norm-Entwurf

Mikrobereichsanalyse – TEM-Probenvorbereitung mittels fokussierter Ionenstrahlen - Fachwörterverzeichnis
2024-01
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