NA 062
DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)
Projekt
Mikrobereichsanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Leitfäden für die Probenvorbereitung für das Transmissionselektronenmikroskop unter Verwendung der Focused-Ion-Beam-Verarbeitung
Beginn
2024-03-27
Geplante Dokumentnummer
ISO/WD 16887
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse
