NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Projekt

Totalreflektions-Röntgenfluoreszenz-Analyse (TXRF) – Allgemeine Grundlagen und Begriffe

Beginn

2022-06-08

Geplante Dokumentnummer

ISO/CD 16666

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 10/WG 1 - XRF-Methode  

Ihr Kontakt

Steffen Jenkel

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

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