DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)
Ellipsometrie - Teil 3: Modell transparente Einfachschicht
Beginn
2024-01-26
Geplante Dokumentnummer
ISO/DIS 23131-3
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062-01-61 AA - Mess- und Prüfverfahren für Schichten und Schichtsysteme
Zuständiges internationales Arbeitsgremium
Norm-Entwurf
Ellipsometrie - Teil 3: Modell transparente Einfachschicht
2025-01
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