NA 062
DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)
ISO/TC 202
Mikrobereichsanalyse
Normung im Bereich der Mikrobereichsanalyse (Messung, Parameter, Verfahren und Referenzmaterialien) die Elektronen als einfallenden Strahl und Elektronen und Photonen als Detektionssignal verwenden. Anmerkung: Das Ziel ist die Analyse der Zusammensetzung und der Strukturmerkmale eines Festkörpers. Das Analysevolumen wird üblicherweise eine Tiefe von bis zu 10 Mikrometer und eine Oberfläche von weniger als 100 Quadratmikrometer umfassen.
Nationales Spiegelgremium von ISO/TC 202
Kurzbezeichnung | Name |
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NA 062-08-18 AA | Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse |