NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

ISO/TC 201/SC 10
Röntgenreflektometrie (XRR) und Röntgenfluoreszenz (XRF)-Analyse

Nationales Spiegelgremium von ISO/TC 201/SC 10

Kurzbezeichnung Name
NA 062-08-16 AA Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie