Projekte von ISO/TC 202/SC 3

ISO/AWI 25387 2024-11-15 Mikrobereichsanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Verfahren zur Bestimmung der Punktauflösung eines hochauflösenden Transmissionselektronenmikroskops Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/AWI 13139 2024-08-22 Mikrobereichsanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Messung der Versetzungsdichte in dünnen Metallen Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/WD 16887 2024-03-27 Mikrobereichsanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Leitfäden für die Probenvorbereitung für das Transmissionselektronenmikroskop unter Verwendung der Focused-Ion-Beam-Verarbeitung Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/DIS 25498 2023-09-12 Mikrobereichsanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Bereichsselektive Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop Mehr  Kontakt zu DIN