Veröffentlichungen von ISO/TC 201

ISO/TS 18507 2015-07 Vornorm Chemische Oberflächenanalyse - Technische Spezifikation zur Verwendung der Röntgentotalreflektion-Fluoreszenzspektroskopie bei biologischen und Umweltanalysen Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 14706 2014-08 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Bestimmung der Oberflächenkontaminationen auf Silizium-Wafern mit Hilfe der "Total X-Ray Fluorescence Spectroscopy" (TXRF) Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 16413 2020-08 Norm Bestimmung der Dicke, Dichte und Grenzflächenbreite von Dünnschichten durch Röntgenreflektometrie - Geräteanforderungen, Einstellung und Positionierung, Datensammlung, Datenanalyse und Berichterstattung Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 17331 2004-05 Norm Chemische Analytik an Oberflächen - Chemische Methoden für die Sammlung von Elementen von der Oberfläche von Siliziumscheiben-Arbeits-Referenzmaterialien und deren Bestimmung mit Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse (TXRF) Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 17331 AMD 1 2010-07 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Chemische Methoden für die Sammlung von Elementen von der Oberfläche von Siliziumscheiben-Arbeits-Referenzmaterialien und deren Bestimmung mit Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse (TXRF); Änderung 1 Mehr  Kaufen bei DIN Media