2. Mitwirken
  3. Normenausschüsse
  4. NMP
NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

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Norm-Entwurf [NEU]

ISO/DIS 23131-3
Ellipsometrie - Teil 3: Modell transparente Einfachschicht

Titel (englisch)

Ellipsometry - Part 3: Transparent single layer model

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-01-61 AA - Mess- und Prüfverfahren für Schichten und Schichtsysteme  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 107/JWG 4 - Gemeinsame Arbeitsgruppe ISO/TC 107 - ISO/TC 35/SC 9 WG: Methoden der Schichtdickenmessung für Überzüge, Lacke und Anstrichstoffe  

Ausgabe 2025-01
Frist zur Stellungnahme bis 2025-04-01
Originalsprache Englisch
Preis ab 74,40 €
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Inhaltsverzeichnis

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