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NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Über NMP Aktuelles Projekte Entwürfe Veröffentlichungen Ersatzlose Zurückziehungen Nationale Gremien Europäische Gremien Internationale Gremien

Norm-Entwurf [NEU]

ISO/DIS 11505
Chemische Oberflächenanalyse - Allgemeine Verfahren zur quantitativen Tiefenprofilanalyse der Zusammensetzung mittels optischer Glimmentladungs-Emissionsspektrometrie

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 8 - Glimmentladungsspektroskopie

Ausgabe 2024-11

Frist zur Stellungnahme bis 2025-02-06

Originalsprache Englisch

Preis ab 70,10 €

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Steffen Jenkel

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