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NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

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Norm-Entwurf [NEU]

ISO/FDIS 20263
Mikrobereichsanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Verfahren zur Bestimmung von Grenzschichtpositionen in der Querschnittsaufnahme von mehrschichtigen Materialien

Titel (englisch)

Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 202/SC 3 - Analytische Elektronenmikroskopie  

Ausgabe 2024-08
Originalsprache Englisch
Preis ab 190,80 €
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