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NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Über NMP Aktuelles Projekte Entwürfe Veröffentlichungen Ersatzlose Zurückziehungen Nationale Gremien Europäische Gremien Internationale Gremien

Norm-Entwurf [NEU]

ISO/DIS 25498
Mikrobereichsanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Bereichsselektive Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop

Titel (englisch)

Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 202/SC 3 - Analytische Elektronenmikroskopie

Ausgabe 2024-06

Frist zur Stellungnahme bis 2024-08-30

Originalsprache Englisch

Preis ab 70,10 €

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Inhaltsverzeichnis

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Steffen Jenkel

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