NA 062
DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)
Norm-Entwurf
ISO/DIS 17297
ISO/DIS 17297
Mikrobereichsanalyse – TEM-Probenvorbereitung mittels fokussierter Ionenstrahlen - Fachwörterverzeichnis
Titel (englisch)
Microbeam analysis - Focused ion beam application for TEM specimen preparation - Vocabulary
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse