NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Norm-Entwurf

ISO/DIS 17297
Mikrobereichsanalyse – TEM-Probenvorbereitung mittels fokussierter Ionenstrahlen - Fachwörterverzeichnis

Titel (englisch)

Microbeam analysis - Focused ion beam application for TEM specimen preparation - Vocabulary

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 202/SC 1 - Terminologie  

Ausgabe 2024-01
Originalsprache Englisch
Preis ab 74,40 €
Inhaltsverzeichnis

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