NA 009

DIN-Normenausschuss Information und Dokumentation (NID)

Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

ISO 6342
Mikrographie; Mikrofilm-Lochkarten; Verfahren zur Messung der Dicke im Bereich des Kleberahmens

Titel (englisch)

Micrographics; aperture cards; method of measuring thickness of buildup area

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 009-00-14 AA - Bestandserhaltung in Archiven und Bibliotheken  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 171/SC 2 - Dokumenten Dateiformate, EDMS Systeme und Authentizität von Informationen  

Ausgabe 1993-08
Originalsprache Englisch
Preis ab 46,00 €
Inhaltsverzeichnis

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