Damit wir unsere Webseiten nutzerfreundlicher gestalten und fortlaufend verbessern, verwenden wir Cookies. Wenn Sie die Webseiten weiter nutzen, stimmen Sie dadurch der Verwendung von Cookies zu. Weitere Informationen erhalten Sie in unseren Datenschutzhinweisen und unserer Cookie-Richtlinie.

- Notwendig
- Funktional
- Personalisierung
- Notwendig
  Diese Cookies sind für den Betrieb der Seite unbedingt notwendig und ermöglichen beispielsweise sicherheitsrelevante Funktionalitäten. Außerdem können wir mit dieser Art von Cookies ebenfalls erkennen, ob Sie in Ihrem Profil eingeloggt bleiben möchten, um Ihnen unsere Dienste bei einem erneuten Besuch unserer Seite schneller zur Verfügung zu stellen.
- Funktional
  Um unser Angebot und unsere Webseite weiter zu verbessern, erfassen wir anonymisierte Daten für Statistiken und Analysen. Mithilfe dieser Cookies können wir beispielsweise die Besucherzahlen und den Effekt bestimmter Seiten unseres Web-Auftritts ermitteln und unsere Inhalte optimieren.
- Personalisierung
  Wir nutzen diese Cookies, um Ihnen die Bedienung der Seite zu erleichtern. So können Sie beispielsweise auf Basis einer vorherigen (z. B. Produktsuche) bei einem erneuten Besuch unserer Webseite komfortabel auf selbige zurückgreifen.

NA 043

DIN-Normenausschuss Informationstechnik und Anwendungen (NIA)

Aktuelles Über NIA Projekte Entwürfe Veröffentlichungen Ersatzlose Zurückziehungen Nationale Gremien Europäische Gremien Internationale Gremien Digitaler Produktpass

Projekt

Künstliche Intelligenz - Datenqualität für Analytik und maschinelles Lernen (ML) - Teil 1: Überblick, Terminologie und Beispiele

Kurzreferat

Dieses Dokument dient dem Verständnis und der Verknüpfung der einzelnen Dokumente der ISO/IEC-Reihe "Artificial intelligence - Data quality for analytics and ML" und ist die Grundlage für das konzeptionelle Verständnis von Datenqualität für Analytik und maschinelles Lernen. Außerdem werden zugehörige Technologien und Beispiele (z.B. Anwendungsfälle und Nutzungsszenarien) diskutiert.

Beginn

2024-10-10

WI

JT021040

Geplante Dokumentnummer

DIN EN ISO/IEC 5259-1

Projektnummer

04301165

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 043-01-42-03 AK - Daten

Zuständiges europäisches Arbeitsgremium

CEN/CLC/JTC 21/WG 3 - Ingenieurtechnische Aspekte

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/IEC JTC 1/SC 42/WG 2 - Daten

Ihr Kontakt

Eva Zeitz

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Tel.: +49 30 2601-2729
Fax: +49 30 2601-42729

Zum Kontaktformular