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DIN-Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG)

Einführungsbeitrag

Dieses Dokument legt allgemeine Verfahren für die Kalibrierung, Justierung und Verifizierung von messtechnischen Merkmalen fest, die flächenhafte Topographiemessgeräte gemeinsam haben, wie in ISO 25178-600 angegeben. Da Oberflächenprofile aus Bildern von Oberflächentopographien extrahiert werden können, lassen sich die meisten der in diesem Dokument beschriebenen Verfahren an Profilmessgeräte anpassen. Messgerätespezifische Fragen werden in diesem Dokument nicht behandelt. Für Geräte, die auf mechanischer Abtastung beruhen und bei denen die Sonde einer zusätzlichen bogenförmigen Bewegung folgt, sind beispielsweise in ISO 25178-701 zusätzliche Maßnahmen festgelegt. Dieses Dokument schließt keine Verfahren für flächenhaft integrierende Methoden ein, obwohl diese ebenfalls in ISO 25178-6 angegeben sind. Lichtstreuung gehört beispielsweise zu einer Klasse von Techniken, die als flächenhaft integrierende Methoden zur Messung der Oberflächentopographie bekannt sind. Dieses Dokument (EN ISO 25178-700:2023) wurde vom Technischen Komitee ISO/TC 213 „Dimensional and geometrical product specifications and verification“ in Zusammenarbeit mit dem Technischen Komitee CEN/TC 290 „Geometrische Produktspezifikationen und -prüfung“ erarbeitet, dessen Sekretariat von AFNOR (Frankreich) gehalten wird. Das zuständige deutsche Normungsgremium ist der Arbeitsausschuss NA 152-03-03 AA „Oberflächen“ im DIN-Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG).

Dokument: zitiert andere Dokumente

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 152-03-03 AA - Oberflächen  

Zuständiges europäisches Arbeitsgremium

CEN/TC 290 - Geometrische Produktspezifikationen und -prüfung  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 213/WG 16 - Flächen- und profilhafte Oberflächenbeschreibung