DIN-Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG)
DIN 32877-2
Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Längenmesseinrichtungen: Optoelektronische Längenmessungen - Teil 2: Konstruktionsmerkmale und messtechnische Merkmale für rückwärtsstreuende Messprinzipien
Geometrical product specification (GPS) - Dimensional measuring equipment: Optoelectronic measurement of length - Part 2: Design characteristics and metrological characteristics for backward scattering measuring principles
Einführungsbeitrag
Dieses Dokument legt allgemeine Grundlagen, Begriffe und Definitionen für berührungsfrei arbeitende optoelektronische Längenmesseinrichtungen fest. Es bezieht sich auf optoelektronische Längenmesseinrichtungen, die in der Produktions- und Prüftechnik zum Einsatz kommen und deren Messbereiche von 100 µm bis zu 1 m reichen. Solche optoelektronischen Längenmesseinrichtungen beruhen beispielsweise auf dem Triangulationsmessprinzip, dem chromatisch-konfokalen Messprinzip, der absolut messenden Interferometrie oder dem Scanningmessprinzip. Dieses Dokument wurde vom Unterausschuss NA 152-03-02-07 UA "Längenprüftechnik außer Koordinaten-, Form und Oberflächenmesstechnik sowie Gewindekenngrößen" im Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG) bei DIN ausgearbeitet.
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN 32877:2000-08 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) der Titel der Norm wurde geändert; b) die Norm wurde in drei Teile gegliedert: Teil 1: Grundlagen und Begriffe, Teil 2: Konstruktionsmerkmale und messtechnische Merkmale für rückwärtsstreuende Messprinzipien und Teil 3: Konstruktionsmerkmale und messtechnische Merkmale für vorwärtsstreuende Messprinzipien (in Planung); c) die normativen Verweisungen wurden aktualisiert; d) die Definitionen der zeitlichen Wiederholpräzision und der örtlichen Wiederholpräzision wurden geändert; e) folgende Begriffe wurden neu aufgenommen: Messkorridor, axiale optische Auflösung, Dynamikbereich der Empfangsstrahlungsleistung einer Einzelmessung; f) der Abschnitt "Prüfkörper" wurde in "Normale" umbenannt, überarbeitet, um weitere Normale ergänzt, neu nummeriert und der Norm als Anhang beigefügt; g) der Abschnitt "Durchführung" wurde in "Verfahren zur Prüfung messtechnischer Merkmale" umbenannt, überarbeitet und unter anderem um die Prüfung der axialen optischen Auflösung und die Prüfung des Dynamikbereichs der Empfangsstrahlungsleistung bei einer Einzelmessung ergänzt; h) folgende Skizzen wurden neu aufgenommen: Zwei Bilder zum Messkorridor, ein Bild zur Einstelldauer bezüglich einer sprunghaften Änderung der Messgröße, ein Bild zur Messung der axialen optischen Auflösung, zwei Bilder zur simultanen Messung des Abstands zur Vorderseite und zur Rückseite eines teiltransparenten Prüfgegenstands, zwei Bilder zur Prüfung der Linearitätsabweichung, der zeitlichen Wiederholpräzision und der örtlichen Wiederholpräzision sowie Bilder der 11 Normale.
