2. Mitwirken
3. Normenausschüsse
4. NATG

DIN-Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG)

Einführungsbeitrag

Dieser Teil von ISO 25178 legt das XML-Dateiformat x3p für die Speicherung und den Austausch von Topographie- und Profildaten fest. Gegenüber EN ISO 25178-72:2017 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Begriffe 3.14 "globales Koordinatensystem" und 3.15 "Ansichtskoordinatensystem" überarbeitet; b) Unterabschnitt 5.4.4 "Händlerspezifische Erweiterungen" überarbeitet; c) Unterabschnitt 5.5.3.1 "Revision" überarbeitet; d) Unterabschnitt 5.5.3.5 "Koordinatentransformation" überarbeitet; e) Unterabschnitt 5.5.5.2.2 "Matrix Dimension" überarbeitet; f) Unterabschnitt 5.5.5.3.5 "Binäres gültiges Dateiformat" überarbeitet; g) Unterabschnitt 5.5.7 "Händlerspezifische Erweiterungen" überarbeitet. Dieses Dokument wurde vom Technischen Komitee ISO/TC 213 "Dimensional and geometrical product specifications and verification" (Sekretariat: DS, Dänemark) in Zusammenarbeit mit dem Technischen Komitee CEN/TC 290 "Geometrische Produktspezifikationen und -Prüfung" erarbeitet, dessen Sekretariat von AFNOR (Frankreich) gehalten wird. Das zuständige nationale Gremium ist der Arbeitsausschuss NA 152-03-03 AA "Oberflächen" im DIN-Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG).

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN ISO 25178-72:2017-11 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Überarbeitung der Begriffe 3.14 und 3.15; b) Überarbeitung von Abschnitt 5 „x3p-Dateiformat“; c) Überarbeitung von Abschnitt A.2; d) Überarbeitung von Abschnitt B.2; e) redaktionelle Überarbeitung der Norm.

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Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 152-03-03 AA - Oberflächen  

Zuständiges europäisches Arbeitsgremium

CEN/TC 290 - Geometrische Produktspezifikationen und -prüfung  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 213/WG 16 - Flächen- und profilhafte Oberflächenbeschreibung