2. Mitwirken
  3. Normenausschüsse
  4. NATG
NA 152

DIN-Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG)

Über NATG Aktuelles Projekte Entwürfe Veröffentlichungen Ersatzlose Zurückziehungen Nationale Gremien Europäische Gremien Internationale Gremien
Technische Regel [AKTUELL]

VDI/VDE 2655 Blatt 1.3
Optische Messtechnik an Mikrotopografien - Kalibrieren von flächenhaft messenden Interferometern und Interferenzmikroskopen für die Formmessung

Titel (englisch)

Optical metrology of microtopographies - Calibration of interferometers and interference microscopes for form measurement

Ausgabe 2020-02
Originalsprache Deutsch , Englisch
Preis ab 123,60 €
Kaufen bei DIN Media
Inhaltsverzeichnis