NA 152

DIN-Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG)

Norm [AKTUELL]

DIN 51418-2
Röntgenspektralanalyse - Röntgenemissions- und Röntgenfluoreszenz-Analyse (RFA) - Teil 2: Begriffe und Grundlagen zur Messung, Kalibrierung und Auswertung

Titel (englisch)

X-ray spectrometry - X-ray emission and X-ray fluorescence analysis (XRF) - Part 2: Definitions and basic principles for measurements, calibration and evaluation of results

Einführungsbeitrag

Dieses Dokument wurde vom Arbeitskreis "Röntgenfluoreszenz-Analyse" im Arbeitsausschuss NA 062-08-15 AA "Grundlagen der analytischen Atomspektroskopie" in Zusammenarbeit mit dem NA 062-06-12 AA "Röntgenfluoreszenz-Analyse" des Fachausschusses Mineral- und Brennstoffnormung (FAM) im DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP) ausgearbeitet.
Dieses Dokument trifft Festlegungen zu Begriffen und Grundlagen für die Messung, Kalibrierung und Auswertung von Ergebnissen bei Röntgenemissions- und Röntgenfluoreszenz-Analysen (RFA).

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN 51418-2:1996-09 und DIN 51418-2 Beiblatt 1:2000-04 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Norm und Beiblatt in einem Dokument vereint; b) gleichberechtigte Einbeziehung wellenlängendispersiver und energiedispersiver Methoden; c) konsequente Einbeziehung der Messunsicherheit als Qualitätskriterium des Analysenergebnisses; d) Berücksichtigung moderner Auswerteverfahren und Vereinfachung des mathematischen Apparates zu deren Darstellung und Beschreibung; e) Einbeziehung neuer technischer Entwicklungen wie z. B. Detektoren und Handspektrometer; f) übersichtliche Strukturierung im Sinne der Herangehensweise an eine vorliegende Analysenaufgabe.

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Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-15 AA - Grundlagen der analytischen Atomspektroskopie  

Ausgabe 2015-03
Originalsprache Deutsch
Preis ab 123,40 €
Inhaltsverzeichnis

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