2. Mitwirken
3. Normenausschüsse
4. NATG

DIN-Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG)

Kurzreferat

Dieses Dokument beschreibt die Einflussgrößen und Messgeräteeigenschaften von konfokalen Mikroskopiesystemen zur flächenhaften Messung von Oberflächentopographien. Da Oberflächenprofile aus Bildern der flächenhaften Oberflächentopographie extrahiert werden können, können die in diesem Dokument beschriebenen Verfahren auch auf Profilierungsmessungen angewendet werden.

Beginn

2024-09-18

WI

00290267

Geplante Dokumentnummer

prEN ISO 25178-607 rev

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 152-03-02 AA - CEN/ISO Geometrische Produktspezifikation und -prüfung  

Zuständiges europäisches Arbeitsgremium

CEN/TC 290 - Geometrische Produktspezifikationen und -prüfung  

Vorgänger-Dokument(e)

Geometrische Produktspezifikationen (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft - Teil 607: Merkmale von berührungslos messenden Geräten (konfokale Mikroskopie) (ISO 25178-607:2019)
2019-04